VTC 4000 2D Nahfeld-Analyse von VCSEL-Arrays
VTC 4000 – Schnelles Testen von VCSEL-Arrays im Nahfeld-Bereich mit höchster Messgenauigkeit
Die Nahfeld-Kamera VTC 4000 von Instrument Systems wurde speziell zur ultraschnellen und präzisen 2D-Analyse von VCSEL-Arrays entwickelt. Sie ermöglicht die polarisationskontrollierte Charakterisierung aller relevanten Parameter simultan für die einzelnen Emitter des Arrays. Durch ein einzigartiges Kalibrierkonzept erfolgt die 2D-Qualitätsanalyse in einer noch nie dagewesenen Messgenauigkeit. Wie alle Messgeräte von Instrument Systems ist die VTC 4000 Kamera auf nationale Standards (PTB) rückführbar kalibriert und liefert Messwerte mit absoluter Genauigkeit.
Die VTC 4000 ist in zwei Varianten erhältlich: VTC 4000 ohne Faserausgang, zur Bestimmung von Leistung, Polarisation und Abstrahlcharakteristik der Einzelemitter (VTC4000-100). Und VTC 4000 mit Faserausgang, zur zusätzlichen Analyse der Wellenlängen mit einem Spektrometer (VTC4000-200).
Polarisationskontrolliertes Messkonzept gewährleistet höchste Genauigkeit
Das innovative Kalibrierkonzept der VTC 4000 basiert auf einer Flat-Field- sowie einer Polarisationskorrektur. Die Polarisationskorrektur erfolgt durch eine In-Line-Analyse des emittierten Lichts und korrigiert die Polarisationsabhängigkeit des optischen Systems. Diese Kalibrierung ermöglicht die Absolutmessung der Leistung und der Polarisationseigenschaften jedes einzelnen Emitters innerhalb des Kamera-Sichtfeldes im One-Shot-Verfahren.
Dieses einzigartige Messkonzept garantiert ein minimales Fehlerbudget der Leistungsmessung und führt zu einer so hohen Messgenauigkeit, wie sie aktuell kein anderes VCSEL-Messsystem bietet.
Ultraschnelle Qualitätskontrolle der einzelnen Emitter
Die Leistungs- und Polarisationsmessung mehrerer Lichtpunkte innerhalb des Kamera-Sichtfeldes benötigt nur ein einziges 2D-Kamerabild. Über dieses kann die Homogenität des Arrays analysiert und abweichende Emitter detektiert werden. Diese ultraschnelle Qualitätskontrolle ist auch innerhalb einer Produktionslinie einsetzbar.
Abstrahlcharakteristik der Einzelemitter
Auch die Abstrahlcharakteristik der Single-Emitter kann mithilfe einer z-Positioniereinheit über die VTC 4000 charakterisiert werden. Die Aufnahme mehrerer Kamerabilder in unterschiedlichen z-Positionen resultiert in einer Vermessung der Emissionstaille. Daraus ergibt sich die Divergenz, die numerische Apertur und der M²-Wert pro Emitter.
Bestimmung der Wellenlänge
Die VTC 4000 ist zusätzlich in einer Version mit Faserausgang erhältlich, der an ein High-Resolution-Spektrometer unserer CAS-Serie angeschlossen werden kann. Dies erlaubt die spektrale Analyse eines Emitters im Bildmittelpunkt. Um die Spektren aller Single-Emitter eines Arrays zu analysieren, kann die VTC 4000 in eine xy-Positioniereinheit implementiert werden.
VTC 4000 - Produktdetails:
- Ultraschnelle 2D-Charakterisierung von VCSEL-Arrays im Nahfeld
- Modellvarianten ohne und mit Faserausgang zum Anschluss eines High-Resolution-Spektrometers aus unserer CAS-Serie
- Simultane Analyse der Single-Emitter im Sichtfeld der Kamera für Leistung, Polarisationsgrad / -winkel und Position
- Einzel-Evaluierung der Single-Emitter für Divergenz, numerische Apertur, M²-Wert und Abstrahlcharakteristik
- Spektrale Analyse und Bestimmung der Wellenlänge (nur mit VTC 4000-200)
- Hochauflösende Kamera mit 12 MP Auflösung
- Kalibrierung im Bereich 910 – 980 nm möglich
- Auf nationale Standards (PTB) rückführbare Werkskalibrierung für die Leistung
- Leistungsfähige SDK zur einfachen Implementierung in Handler-Systeme
VTC 4000 – Die perfekte Lösung zur Nahfeldmessung von VCSEL-Arrays
Die VTC 4000 wurde speziell für die Nahfeldanalyse von VCSEL-Arrays entwickelt und stellt die optimale Messlösung sowohl im Labor als auch in Produktionsumgebungen dar.
Die Anwendungen umfassen Tests für alle VCSEL-Einsatzgebiete, insbesondere 3D Sensing für Smartphones (z.B. Gesichts- und Objekterkennung) und im Automobilbereich (z.B. LiDAR-Systeme).
Stets liefern die Messlösungen mit der VTC 4000 schnelle und genaue Ergebnisse für die Analyse und Qualitätskontrolle auf Einzel-Emitter-Ebene.
